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  • 用于解剖学测量的卡尺及其测量方法

    专利

    专利摘要: 本发明涉及解剖学用测量尺,特别是用于解剖学测量的卡尺及其测量方法。它包括测量臂,操作臂,卷尺,操作臂上连接测量臂,测量臂中的第一测量臂和第二测量臂两者结构相同,第一测量臂和第二测量臂两者呈上、下完全重合在一起的结构;操作臂中的第一操作臂和第二操作臂铰接,第一操作臂与第二操作臂两者的长度相等,第二操作臂上装有卷尺,卷尺伸出端装在第一操作臂上。将第一、第二测量臂部分伸入到解剖组织内;第一、第二操作臂使两者呈张开状态,卷尺的一端也随第一操作臂移动,第一、第二测量臂张开与第一、第二操作臂同样的角度,第一、第二测量臂卡住所需测量结构;从卷尺上读取数据。与现有技术相比,具有操作简单,测量精确的优点。
    发明者: 张文龙, 赵刚
    公开日: 2014年5月21日
胡娟
金牌知产顾问
215463210
全国服务热线: 400-850-8810

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