专利名称:电容式超声传感器及其制备方法电容式超声传感器及其制备方法图1为一实施方式的电容式微加工超声传感器的俯视图;图2为图1所示电容式微加工超声传感器的剖面结构示意图3为一实施方式的电容式微加工超声传感器的制备方法的流程图;图4为图3所示制备方法步骤SlO提供的半成品的剖面结构示意图;图5为图3所示制备方法步骤S20干法刻蚀后的器件的剖面结构示意图;图6为图3所示制备方法步骤S30湿法腐蚀后的器件的剖面结构示意图。如图6所示,通过刻蚀及腐蚀窗口 42,湿法腐蚀除去金属掩模层50和金属牺牲层 70,在第一电极层20和第二电极层30之间形成空腔40。金属牺牲层70被除去后形成柱状结构224,第二电极层30被柱状结构2M支撑, 且柱状结构224正对上电极32网孔结构的孔洞。S40、进行第二次干法刻蚀如图2所示,以第二电极层30为掩模,干法刻蚀除去柱状结构224以及部分绝缘层22结构,空腔40进一步被扩大,空腔40由上电极32、绝缘层22、侧边电极M和中间电极沈围成,得到电容式超声传感器。在优选的实施例中,SlO得到的半成品中绝缘层22边缘设有金属焊盘27,步骤S20 和步骤S40中,干法刻蚀以金属焊盘作27为掩模,在绝缘层22边缘形成凸起222。这种电容式微加工超声传感器采用标准CMOS集成电路制造工艺制造,上电极32、 侧边电极M和中间电极沈等后续结构的释放仅需要进行两次干法刻蚀和一次湿法腐蚀, 工艺简单,提高了成品率,可以大幅度降低制造成本,便于实现规模化大生产。湿法腐蚀后形成的悬空的第二电极层30下面具有柱状结构2M支撑,避免了由于第二电极层30与第一电极板20距离很近,湿法释放的时候发生粘附,使得器件报废的问题,成功解决了 CMOS工艺中结构层间隙小而结构释放时产生的粘附问题。以上所述实施例仅表达了本发明的一种或几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。本发明公开了一种电容式超声传感器,包括掺杂硅衬底、固定在掺杂硅衬底上的第一电极层以及间隔设置在第一电极层上的第二电极层;第一电极层包括固定在掺杂硅衬底上的绝缘层、固定在绝缘层外沿的侧边电极以及固定在绝缘层中间的中间电极,侧边电极与中间电极通过绝缘层隔开;第二电极层通过绝缘层与侧边电极和中间电极隔开,绝缘层、侧边电极、中间电极以及第二电极层围成作为电容极板间隙的空腔。这种电容式微加工超声传感器的第一电极层采用包括侧边电极和中间电极的双层电极结构,相对于传统的单层电极结构,灵敏度高,发射和接收超声性能均得到提高。本发明还提供一种上述电容式超声传感器的制备方法。
电容式超声传感器及其制备方法
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