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  • Pzt系铁电薄膜形成用组合物及其制法和pzt系铁电薄膜形成法

    专利

    专利摘要: 本发明提供一种PZT系铁电薄膜形成用组合物及其制造方法以及PZT系铁电薄膜的形成方法。该PZT系铁电薄膜形成用组合物包括PZT前驱体、二醇、水及碳链为6以上12以下的直链一元醇、并包含聚乙烯吡咯烷酮或聚乙二醇。组合物100质量%中所占的上述PZT前驱体的浓度以氧化物浓度计为17~35质量%,组合物100质量%中的上述二醇的比例为16~56质量%,上述聚乙烯吡咯烷酮或聚乙二醇的比例相对于1摩尔的上述PZT前驱体为0.01~0.25摩尔,上述水的比例相对于1摩尔的上述PZT前驱体为0.5~3摩尔,组合物100质量%中的直链一元醇的比例为0.6~10质量%。
    发明者: 土井利浩, 樱井英章, 曽山信幸
    公开日: 2014年10月1日
  • Pzt系铁电薄膜及其形成方法和复合电子组件制作方法

    专利

    专利摘要: 本发明提供一种PZT系铁电薄膜及其形成方法和复合电子组件。所述PZT系铁电薄膜通过如下来形成,即在具有下部电极的基板的该下部电极上涂布一次或两次以上PZT系铁电薄膜形成用组合物并进行预烧结之后,通过烧成使其结晶,其中,薄膜由从薄膜表面测定时的平均粒径在500~3000nm的范围的PZT系粒子构成,在薄膜表面上的晶界的一部分或全部中析出有平均粒径为20nm以下的与上述PZT系粒子不同性质的微粒。
    发明者: 土井利浩, 樱井英章, 曽山信幸, 野口毅
    公开日: 2014年10月1日
  • Pzt系铁电薄膜形成用组合物及其制法和pzt系铁电薄膜形成法

    专利

    专利摘要: 本发明提供一种PZT系铁电薄膜形成用组合物及其制造方法以及PZT系铁电薄膜的形成方法。该PZT系铁电薄膜形成用组合物的特征在于,组合物100质量%中的PZT前驱体的比例以氧化物换算计为17~35质量%,组合物100质量%中的二醇的比例为16~56质量%,聚乙烯吡咯烷酮或聚乙二醇的比例相对于1摩尔的上述PZT前驱体以单体换算计为0.01~0.25摩尔,水的比例相对于1摩尔的上述PZT前驱体为0.5~3摩尔,其中,排除在上述组合物100质量%中以0.6~10质量%的比例进一步包含碳链为6以上12以下的直链一元醇的组合物。
    发明者: 土井利浩, 樱井英章, 曽山信幸
    公开日: 2014年10月1日
胡娟
金牌知产顾问
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