专利名称：放射线摄像设备及其控制方法随着近年来对图像数字化的需求，已开始使用具有用于输出数字图像的功能的数字摄像设备作为拍摄透过被检体的放射线图像的放射线摄像设备。代替屏片系统 (screen-film system)，通过使用累积放射线图像作为潜像的成像板，使用计算机辅助放射线摄像设备来进行普通摄像，并且计算机辅助放射线摄像设备通过激光扫描成像板来激励潜像。该设备经由光电子倍增器读取通过该操作所产生的荧光。还使用I. I.-DR摄像设备来拍摄运动图像，其中，I. I. -DR摄像设备使用诸如CCD等的固态摄像器件而并非使用摄像管。这两种设备都具有用于输出数字图像的功能。这将有助于医学图像的数字化。通过使用所谓的FPD (平板检测器)在不经由光学系统等的情况下直接对放射线图像进行数字化的数字摄像设备也是可用的，其中，FPD是具有以彼此紧密接触的方式进行配置的荧光体和大面积非晶硅传感器的放射线平板检测器。传统上，如日本特开2005-006196和日本专利4124915所公开的那样，放射线平板检测器(FPD)预先登记缺陷位置(缺陷坐标映射)，并且始终基于缺陷位置来校正预定像素。根据日本特开2005-006196，平板检测器提取第一缺陷像素和第二缺陷像素。根据日本专利4124915，平板检测器将图像分割成多个区域，获得标准偏差，并且提取各区域内的缺陷像素。用于例如根据异常像素是永久异常像素还是暂时异常像素来改变异常像素校正方法等的手段仍是不可用的。这使得无法利用适当的方法来校正异常像素。
本发明提供一种放射线摄像设备，该放射线摄像设备可以根据异常像素是永久异常像素还是暂时异常像素而在空间校正和时间校正之间进行选择。根据本发明的一个方面，提供一种放射线摄像设备，其包括X射线照射部件，用于照射X射线；以及X射线检测部件，用于检测所述X射线照射部件照射的被检体的X射线图像，所述放射线摄像设备还包括第一缺陷检测部件，用于将所述X射线检测部件检测到的多个X射线图像中、像素值始终异常的像素检测为位置依赖缺陷，并且获取所述缺陷在所述X射线图像中的位置信息；第一缺陷校正部件，用于基于所述位置信息和检测到像素值的异常的像素的相邻像素的像素值，来校正检测到异常的像素的像素值；获取部件，用于获取表示所述X射线检测部件检测到所述X射线图像时、所述被检体的摄像条件的信息；判断部件，用于基于所述获取部件获取到的表示所述摄像条件的信息，来判断是否对所述第一缺陷校正部件校正后的X射线图像进行进一步校正；第二缺陷检测部件，用于当所述判断部件判断为对所述X射线图像进行进一步校正时，将所述X射线检测部件检测到的多个X射线图像中、依赖于时间的经过而暂时变为异常的像素检测为缺陷；确定部件，用于基于表示所述摄像条件的信息，确定用于对所述第二缺陷检测部件检测到异常的像素的像素值进行校正的校正方法；以及第二缺陷校正部件，用于根据所述确定部件确定出的所述校正方法，来校正所述第二缺陷检测部件检测到的像素的像素值。本发明可以提供一种放射线摄像设备，其中该放射线摄像设备可以针对暂时缺陷像素而在空间参数校正和时间参数校正之间进行选择。另外，还可以提供一种放射线摄像设备，其中该放射线摄像设备可以针对如X射线散粒噪声像素或异常点像素等的并非始终出现的异常像素，根据摄像条件，改变成适当的校正方法。通过以下(参考附图)对典型实施例的说明，本发明的其它特征将变得明显。 图1是示出根据实施例的放射线摄像设备的整体结构的示意性框图；图2A和2B是用于说明空间/时间依赖缺陷校正和基于加权的缺陷校正的图；图3是用于说明放射线摄像设备中的处理过程的流程图；图4是用于举例说明X射线光子与可见光光子混合并相互作用时的统计分布的图；图5A和5B是用于概念性说明异常像素校正方法的图；图6是用于举例说明根据X射线剂量、X射线散粒噪声对图像质量的影响的图；图7A是用于说明根据本实施例的放射线摄像设备中的处理过程的流程图；图7B是这样的图，其中，(7a)表示放射线摄像设备的操作窗口的例子，并且(7b) 表示作为身体部位的骨区域和软组织区域中的增强频率和增强度之间的关系；图7C是举例示出各身体部位的增强频率和增强度之间的关系的图；图8是举例示出空间频率和MTF(调制传递函数)之间的关系的图；图9是用于说明摄像时获取到的信息(进行摄像时所获取的信息)的权重计算单元的结构的框图；图10是示出与加权信息有关的计算结果的图；图11是示出加权信息的相加值(输入)和执行第二缺陷校正时的加权信息的输出值之间的关系的图；图12是示出最大帧频和像素总数(像素合并(pixel binning))之间的关系的图；图13是举例示出分别与被检体在图像中的大的运动和小的运动相对应的图像的图；图14是用于说明根据本实施例的放射线摄像设备的处理过程的流程图；图15是用于说明传统的依赖于空间位置的缺陷校正的图16是用于说明放射线摄像设备的结构的框图；图17是用于说明放射线摄像设备中的处理过程的流程图；以及图18是用于说明放射线摄像设备中的处理过程的流程图。
将参考图3说明根据本实施例的放射线摄像设备中的处理过程。在步骤S300，该设备进行第一缺陷检测。在该步骤中，例如，第一缺陷像素位置检测单元1008在出厂时的检查步骤中检测缺陷像素(永久缺陷像素)。将永久缺陷像素的位置信息(第一缺陷像素位置(缺陷像素位置映射))存储在第一缺陷像素位置存储单元1018中。在步骤S301，放射线摄像设备1000在完成设备的准备之后开始放射线摄像。X射线照射单元1001生成与身体部位相对应的预定剂量的X射线，并且利用X射线照射被检体 1003。X射线检测单元1004检测透过被检体1003的X射线。在经过了预定累积时间之后， 数据获取单元1006读出所检测到的X射线的图像(X射线图像)。摄像信息获取单元IOM 存储放射线摄像时所获取到的信息。摄像信息获取单元IOM存储经由操作面板1016所输入的身体部位信息、与各身体部位相对应的空间频率增强参数、以及已到达包括在X射线检测单元1004中的X射线图像检测面板的X射线的剂量等。数据获取单元1006对所获得的X射线图像数据进行例如A/D转换、放大和X射线图像数据重排等。将这些处理结果发送给主存储器1015。在步骤S302，该设备进行第一缺陷校正。该设备通过使用存储在第一缺陷像素位置存储单元1018中的永久缺陷像素的位置信息(第一缺陷像素位置(缺陷像素位置映射))，校正空间位置依赖缺陷像素。在步骤S303，缺陷校正方法判断单元1020判断是否执行用于校正缺陷像素的校正方法(第二缺陷校正)。通过使用放射线摄像时获取到的存储在摄像信息获取单元IOM 中的信息，缺陷校正方法判断单元1020判断是否执行第二缺陷校正。摄像时获取到的信息 (在进行摄像时所获取的信息)例如包括X射线剂量、身体部位信息、频率增强信息、图像中的运动量、摄像帧频、像素间距、执行/不执行像素合并、以及X射线随机噪声量。可以通过使用这些信息中的至少一个来判断是否执行第二缺陷校正。例如，如果存储在摄像信息获取单元IOM中的X射线剂量大于预定剂量，则在不执行第二缺陷检测的情况下，将X射线图像数据输入给图像处理单元1013，其中，该第二缺陷检测的执行是为了执行第二缺陷校正以便校正X射线散粒噪声。如果存储在摄像信息获取单元IOM中的X射线剂量小于预定剂量，则缺陷校正方法判断单元1020判断为执行第二缺陷检测，其中该第二缺陷检测是为了执行第二缺陷校正。然后该处理进入步骤S304。在步骤S304，第二缺陷像素位置检测单元1010对在上述步骤S302中已经过第一缺陷校正的图像进行缺陷检测。在第二缺陷检测中，该设备对第一缺陷校正未校正的缺陷像素或输出异常像素进行缺陷校正。在第一缺陷检测中，该设备主要检测依赖于空间位置的输出异常像素作为缺陷像素。缺陷像素等的形成原因可能是由于在半导体工艺中制造像素时异物成分混入该像素而引起的。第一缺陷像素位置检测单元1008还检测如下的异常输出像素作为空间位置依赖缺陷像素，其中，该异常输出像素是由于输出信号值所通过的各信号线或者放大器IC而引起的，而并非由于各像素而引起的。在该步骤中检测到的像素主要包括时间依赖输出异常像素。例如，X射线散粒噪声和异常点被假定为这类异常像素。如下面所述，X射线散粒噪声不是由于像素、信号线或放大器IC等而引起的缺陷像素。该X射线散粒噪声是在透过荧光体的X射线光子由于光电转换元件内部的光电效应偶然被转换成电信号时发生的。也就是说，这类噪声在每一像素中始终以预定概率发生。另外，如果在相应像素、信号线或放大器IC等中存在接触不
8良或不稳定部分，则异常点有时可能变成缺陷像素。如果在第一缺陷检测中将并非总是缺陷像素的这类像素检测为永久缺陷像素，则存在这类像素被过度地登记为缺陷像素的可能性。在本发明中，为了对适当的像素进行缺陷校正，进行第一缺陷检测以检测总是出现的异常像素，而进行第二缺陷检测以针对各图像检测以某一概率(暂时)出现的异常像素。该步骤的目的是检测未能被拍摄作为稳定出现的缺陷像素的异常像素。在步骤S305，缺陷校正方法判断单元1020选择步骤S304检测到的缺陷像素的校正用的校正方法(第二缺陷校正)。在本发明中，缺陷校正方法判断单元1020可以进行如下选择(i)使用空间相邻像素的缺陷校正；(ii)使用时间相邻像素的缺陷校正；(iii)使用经加权的空间相邻像素和时间相邻像素这两者的加权缺陷校正；以及(iv)不进行缺陷校正。注意，第一缺陷检测中检测到的像素是处于永久缺陷状态的像素(永久缺陷像素)， 因此该像素通常经过上述(i)使用空间相邻像素的缺陷校正。缺陷校正方法判断单元1020 使用在摄像时获取到的信息来判断缺陷校正方法。当检测到的第二缺陷像素的数量小时， 用于检测第二缺陷像素并进行第二缺陷校正的步骤在实时显示运动图像时需要很长的计算时间。这可能导致在显示之前存在延迟时间。因此优先选择上述(iv)不进行缺陷校正。 然而，如果上述图像在以后要重复观看或者用于诊断等而不是实时显示，则任何意外的缺陷像素都可能破坏所显示的图像或者表现异常值。因此，在这种情况下，通过使用校正方法 (i) (iii)中的一个校正方法来进行缺陷校正。在例如拍摄静止图像或者运动图像帧频低时，需要进行⑴使用空间相邻像素的缺陷校正。在这种情况下，由于相邻帧之间存在一段时间间隔，因而被检体等可能发生较大运动。在这种情况下，使用相邻帧的缺陷校正导致了使用非常不同的像素值的缺陷校正。方法(ii)和(iii)是使用时间相邻像素的缺陷校正方法。在以高运动图像帧频进行摄像时， 时间相邻像素的像素值在精度上有时比空间相邻像素的像素值要高。例如，这是被检体几乎不运动的情况。在这种情况下，利用了(ii)使用时间相邻像素的缺陷校正。在以高帧频进行摄像时，通常在放射线摄像设备侧进行设置从而以合并的方式读出像素。这是因为读出许多像素需要很多时间，因此难以以高帧频读出图像。另外，图像大小越大，越难以进行诸如预处理等的图像处理。进行像素合并将会增大相对于空间相邻像素的距离，因此将会增大进行使用时间相邻像素的缺陷校正的必要性。当例如要设置高帧频，并且该设备例如进行2X 2像素合并或4X4像素合并而并非读出所有像素时，间隔为160 μ m的像素大小实际被当作间距为320 μ m或640 μ m的像素大小。此时，进行使用空间相邻像素的缺陷校正将会导致必需进行使用远的位置处的像素的缺陷校正，并且将会降低缺陷校正的精度。也就是说，当以高帧频进行摄像时，空间相邻像素被配置在空间上较远的位置处，而时间相邻像素被配置为时间上彼此较接近。由于这种协同效应，该设备选择用于进行使用时间相邻像素的缺陷校正的方法。当该设备不进行第二缺陷校正时，处理进入步骤S309以进行显示用的图像处理。 当该设备不进行第二缺陷校正时，缺点是表现异常输出的像素作为噪声分散并显示在图像上。另一方面，优点是由于计算处理量降低，因而可以快速显示图像。如果在步骤S305选择出空间缺陷校正，则处理进入步骤S306。作为第二缺陷校正的空间缺陷校正的优点在于即使用户感觉到经过了使用空间缺陷校正的第一缺陷校正的图像的图像质量低，使用空间相邻像素也将在一定程度上帮助他或她掌握该图像的内容。另外，不断改进空间缺陷校正方法使得图像看起来更自然。例如，该方法可以有效地校正诸如连续缺陷和线缺陷等的缺陷。如果在步骤S305选择出时间缺陷校正，则处理进入步骤S307。时间缺陷校正是基于与表现出异常输出的像素相同的像素的从时间相邻帧中获得的像素值所进行的缺陷校正。在实时显示图像时，期望使用与紧挨着的前一帧中的像素相同的像素。在重复重放图像或者进行诊断用的显示处理时，期望通过以相同比例使用相邻帧来进行该时间缺陷校正。如果在步骤S305选择出使用时间缺陷校正和空间缺陷校这两者的缺陷校正，则处理进入步骤S308。在步骤S308，该设备利用时间缺陷校正和空间缺陷校正在进行加权的情况下执行缺陷校正。在步骤S309，该设备进行显示用的图像处理。将显示用的图像处理分成色调处理、频率处理和像素计数处理。色调处理是用于调整拍摄图像的关注浓度以与监视器等的显示色调相匹配的处理。频率处理是用于适当地表现拍摄图像的关注频率的频率增强处理。像素计数处理包括合并处理和裁切处理。通常，由于在监视器等上常常显示 1024像素图像或2048像素图像，因而该设备进行用于将像素的数量改变成适于进行显示的数量的处理。如果在步骤S310判断为要继续进行摄像(步骤S310为“是”)，则处理返回到步骤S301以重复如上所述的相同处理。如果在步骤S310判断为不继续进行摄像(步骤S310为“否”)，则处理进入步骤S311以执行经过了步骤S309所执行的图像处理的图像的显示(输出)处理。然后，该处理终止。将参考图4举例说明X射线光子与可见光光子混合并相互作用时所获得的统计分布。图4中的附图标记如表示用于说明剂量低的情况的图。图4中的附图标记4b表示用于说明剂量在某种程度上较高的情况的图。在图4中的附图标记如所表示的情况下，由于剂量低，因而相互作用的X射线光子的数量非常小。由于该原因，从概率上说仅出现X射线光子相互作用的像素作为图像中可能被视作缺陷像素的噪声。相反，如果如图4中的附图标记4b所表示的情况一样，剂量较高，则由于在各像素中多个X射线光子相互作用，因而各像素仿佛用作X射线光子计数器。结果，各个像素表现了透过被检体的X射线的剂量的分布。该现象不仅依赖于剂量，还依赖于发生光电转换的X射线平板检测器(FPD)的灵敏度。 当包括X射线平板检测器(FPD)的放射线摄像系统中的噪声小时，可以通过增大X射线平板检测器(FPD)的灵敏度来减小可检测到的像素值单位中所分配的剂量。也就是说，当放射线摄像系统中的噪声的量非常小时，可以大大减小在光电转换各光子时要分配给各像素的电压或电流的最小单位。这在间接型放射线平板检测器(FPD)中增大了下面的可能性 代替被转换成可见光的光，透过荧光体的X射线被放射线平板检测器(FPD)直接进行光电转换，并被识别为散粒噪声。当放射线平板检测器(FPD)中的噪声的量非常小时，由于X射线剂量随着灵敏度被设置得更高而增大，因而在X射线的直接光电转换时在图像中识别出的像素数量增大。 这是因为如果放射线平板检测器(FPD)中直接进行光电转换的X射线光子的量较小，例如，一个以下，则如像素值突然增大的像素一样，偶然发生光电转换的像素作为散粒状噪声而出现。随着X射线剂量的增大，在每一个像素中对一个以上的X射线光子进行光电转换。 最后，该分布接近高斯(Gaussian)分布。这种X射线散粒噪声是在X射线偶然入射到其自身并非缺陷像素而是正常像素的像素时、光电转换的可视化的结果。
将参考图5A和5B在概念上说明异常像素校正方法。图5A是用于举例说明正常像素和异常像素的图。异常像素被分类成永久异常像素和暂时异常像素。横轴表示时间的经过，并且纵轴表示第(n-2)、第(n-1)、第η和第(η+1)图像帧的像素值。尽管正常像素的输出值根据被检体的运动或所生成的X射线的剂量等而轻微改变，但是像素值变化不大。相反，永久异常像素始终具有与空间相邻像素的值极大不同的像素值，并且异常像素的整体像素值小。通常，暂时异常像素无法与正常像素区分开，但是在特定帧(例如第η帧)中有时输出与空间相邻像素的像素值极大不同(更小)的值。图5Β是示出与摄像帧频相对应的缺陷校正方法的图。附图标记501表示示出在静止图像拍摄期间生成暂时缺陷像素的例子的图。在这种情况下，如现有技术一样，缺陷校正方法判断单元1020选择校正方法以通过使用空间相邻像素来校正缺陷像素。如果所生成的像素的数量小，则缺陷校正方法判断单元1020可以判断为不进行第二缺陷像素校正。 例如，可以控制加权设置，以通过将空间/时间缺陷校正权重设置成0来避免第二缺陷像素校正。附图标记502表示在以高运动图像帧频所拍摄的图像中生成暂时缺陷像素的例子。缺陷校正方法判断单元1020判断为使用相同像素在相邻帧中的像素值进行时间缺陷校正。在这种情况下，例如，缺陷校正方法判断单元1020还可以判断为使用相同像素在相邻帧中的像素值在增大时间缺陷校正权重的情况下进行缺陷校正。附图标记503表示在以中/低运动图像帧频所拍摄的图像中生成暂时缺陷像素的例子。缺陷校正方法判断单元 1020利用同一图像中的空间相邻像素值以及相邻帧图像中的像素值，通过执行作为空间缺陷校正方法和时间缺陷校正方法的组合的校正方法，来校正缺陷像素。例如，加权控制单元 1023基于缺陷校正方法判断单元1020所获得的判断结果，设置空间缺陷校正和时间缺陷校正用的权重。该设备基于所设置的权重，执行作为空间缺陷校正方法和时间缺陷校正方法的组合的校正方法。本实施例可以提供一种能够在用于校正暂时缺陷像素的空间参数和时间参数之间进行选择的放射线摄像设备。本实施例还可以提供一种放射线摄像设备，其中该放射线摄像设备能够针对如X射线散粒噪声像素或异常点像素等的并非始终出现的异常像素，根据摄像条件，改变成适当的校正方法。第二实施例本实施例将举例说明用于通过使用X射线剂量作为摄像时获取到的信息来改变第二缺陷校正方法的结构。将参考图6来举例说明与X射线剂量相对应的X射线散粒噪声对图像质量的影响。图6中的附图标记6a表示下面的情况由于随机噪声量大，因而，即使输入了表现X射线散粒噪声峰值的像素，该像素也淹没在随机噪声中。这使得难以将该像素识别为暂时缺陷像素。图6中的附图标记6b表示下面的情况由于随机噪声量小，因而， 当输入了表现X射线散粒噪声峰值的像素时，该像素没有淹没在随机噪声中。这使得容易地将该像素识别为暂时缺陷像素。本发明通过基于随机噪声量的大小进行控制以判断是否对X射线散粒噪声像素进行暂时缺陷校正，来进行适当的缺陷校正。图6中的附图标记6c表示举例示出X射线剂量和随机噪声量之间的关系的图。 横轴表示X射线剂量，并且纵轴表示与图像中随机变化的成分的随机噪声量相对应的像素值。如附图标记6C所表示的图所示，通常，随着X射线剂量的增大，像素值(平均值)和随机噪声量均单调增大。X射线散粒噪声压倒性地小于像素值(平均值)和随机噪声量，因此广义而言没有影响。即使X射线散粒噪声像素的数量小，但由于各像素的峰值像素值大，因而当随机噪声量小时，X射线散粒噪声仍趋于明显。在X射线剂量等于或小于阈值时，本实施例进行第二缺陷校正，以使得X射线散粒噪声相对于随机噪声不大明显。接着将说明X射线剂量阈值。一个像素值在随机噪声中是否在视觉上被识别，这依赖于该值是否落入X射线剂量的约1/7 1/10的范围内。在X射线剂量的穿透剂量的情况下，缺陷校正方法判断单元1020判断为进行第二缺陷校正，其中，在该穿透剂量的情况下，如果X射线散粒噪声的像素值是100LSB (最低有效位)，则随机噪声的像素值约为作为X射线散粒噪声的像素值的1/7的15LSB以下。在等于或大于入射剂量的情况下，相应像素不明显，并且不完全是缺陷像素。该像素包括一些正确的像素值，其中，向这些像素值相加大小约为100LSB的像素值。因此，在这种情况下，缺陷校正方法判断单元1020不将该像素当作缺陷像素。也就是说，缺陷校正方法判断单元1020判断为不进行第二缺陷校正。将参考图7A说明根据第二实施例的放射线摄像设备中的处理过程。在步骤S701， 该设备计算X射线散粒噪声的像素值。在例如出厂之前，将X射线散粒噪声发生时的像素输出的统计值预先存储在存储单元中。例如，在间接型FPD中，在贴合荧光体之前，通过读取在没有可见光进入荧光体的环境下仅利用X射线照射该荧光体而在该荧光体中所积累的电荷，从该荧光体中读取像素值。使用该方法可以预先仅计算X射线散粒噪声的输出像素值的统计值。在步骤S702，该设备拍摄X射线图像。该处理与图3中的步骤S301中的处理相同。在步骤S703，该设备执行第一缺陷校正。该设备以与第一实施例所述的相同的方式， 对步骤S702拍摄到的X射线图像进行使用空间相邻像素的第一缺陷校正。处理进入步骤 S707。在步骤S704，该设备分析步骤S702拍摄到的X射线图像以计算穿透X射线剂量。 可以基于X射线检测单元1004所检测到的各像素值来计算该穿透X射线剂量。在X射线照射方向上，在被检体中X射线透过的距离大的厚区域内，像素值减小，并且在被检体中X 射线透过的距离小的薄区域内，像素值增大。在步骤S705，该设备计算X射线量子噪声相对于入射X射线剂量的统计量。由于如附图标记6c所表示的纵轴和横轴所示预先获得了随机噪声量，因而该设备通过使用所获得的随机噪声量作为转换表来执行转换处理。在步骤S706，该设备计算X射线散粒噪声的像素值和随机噪声量的统计量之间的比率。通常，如附图标记6a和6b所示，由于视觉识别界限落入随机噪声量的1/7 1/10 的范围内，因而该设备计算并输出这两个值的比率。在步骤S707，缺陷校正方法判断单元1020基于步骤S706计算出的比率，判断是否执行第二缺陷校正。当在剂量例如大于随机噪声量的1/7的相邻像素值处出现暂时缺陷像素时，存在无法在视觉上识别相应像素的可能性。由于该原因，缺陷校正方法判断单元 1020判断为不进行第二缺陷校正。在这种情况下，处理进入步骤S709。如果在剂量小于X 射线剂量相对于随机噪声的比率例如为1/7的剂量(阈值)的相邻像素值处出现暂时缺陷像素，则缺陷校正方法判断单元1020判断为执行第二缺陷校正。在步骤S708，第二缺陷校正单元1011执行第二缺陷校正。在步骤S709，该设备执行显示用的图像处理，并且在胶片或监视器等上显示(输出)所拍摄的X射线图像。然后， 该处理终止。注意，本实施例中作为阈值所描述的数值1/7和1/10仅是表示视觉识别界限的例子。显然，本发明的主旨不局限于数值的这些例子。根据本实施例，可以通过使用X射线剂量作为摄像时获取到的信息来改变第二缺陷校正方法。第三实施例本实施例将举例说明如下结构通过使用作为摄像时获取到的信息(进行摄像时所获取的信息)的、由放射线摄像设备输入或检测到的身体部位信息，控制第二缺陷校正的内容。图7B中的附图标记7a表示放射线摄像设备上的操作窗口的例子。图7B中的附图标记7b表示举例示出作为身体部位的骨区域和软组织区域中的增强频率和增强度之间的关系的图。图7C是举例示出各身体部位的增强频率和增强度之间的关系的图。放射线摄像设备根据摄像时在操作窗口上指定的身体部位(例如胸部AP)，进行适当的图像处理。 这种情况下的图像处理大致包括色调处理和频率处理。本实施例使用频率处理中所设置的参数。如图7C所示，频率处理中所设置的参数例如包括增强频率和增强度。放射线摄像设备存储增强度和各自表示针对各身体部位要增强的频率的增强频率。可以任意改变增强频率参数和增强度参数。附图标记7b表示示出作为身体部位的骨区域和软组织区域中的增强频率和增强度之间的关系(分布)的图。在诊断图像中，软组织区域通常以低的增强频率经过弱的增强量处理。相反，骨区域通常以高的增强度和高的增强频率经过增强处理。用于其它身体部位的频率处理的增强参数通常落入用于上述身体部位的参数之间。对以此方式用于频率增强的图像处理参数进行检查，使得能够根据各拍摄图像的各身体部位来掌握关注的特定空间频率。在本实施例中，缺陷校正方法判断单元1020根据关注的空间频率是高空间频率还是低空间频率，来判断在第二缺陷校正方法中是重视空间缺陷校正还是时间缺陷校正。将参考图8举例说明空间频率和MTF(调制传递函数)之间的关系。图8示出MTF 的空间频率依赖性在执行空间缺陷校正时降低。当利用空间相邻像素进行空间缺陷校正时，相应像素由于其像素值是通过使用相邻像素代替该像素的原始值而确定出的，因而在空间上模糊。图8示出该状态与MTF的例子。在低空间频率的情况下，空间缺陷校正前后的MTF的降低量较小，而在高空间频率的情况下，MTF的降低量较大。参考图8，当指定的身体部位的关注频率是高空间频率时，该设备控制第二缺陷校正方法的内容，以增大时间缺陷校正权重并减小空间缺陷校正权重，从而防止关注频率的MTF的大的降低。相反，当关注频率是低空间频率时，该设备控制第二缺陷校正方法的内容，以减小时间缺陷校正权重并增大空间缺陷校正权重。以此方式控制第二缺陷校正方法的内容，使得可以执行内容适合于所指定的身体部位的特性的第二缺陷校正方法。尽管本实施例举例说明了操作者通过操作窗口指定身体部位的情况，但是本发明的主旨并不局限于此。显然，例如，本发明还可应用于下面的情况通过使用支持向量机在软件上分析图像以识别身体部位，并且输入所获得的身体部位。另外，本实施例使得本发明能够应用于基于身体部位获得关注频率。然而，本发明的主旨不局限于此。显然，还可以经由操作窗口等预先输入关注频率以及空间缺陷校正权重和时间缺陷校正权重。根据本实施例，可以通过使用作为摄像时获取到的信息(进行摄像时所获取的信息)的、由放射线摄像设备输入或检测到的身体部位信息，来控制第二缺陷校正的内容。第四实施例本实施例将举例说明用于通过使用摄像时获取到的信息(进行摄像时所获取的信息)中的摄像帧频来控制第二缺陷校正的内容的结构。将参考图12举例说明最大帧频和像素总数(像素合并)之间的关系。通常，随着摄像帧频的增大，像素总数减少。通过裁切图像的一部分或者进行像素合并来减少像素总数的方法是可用的。进行像素合并将会增大相对于空间相邻像素的距离。也就是说，通常，在许多情况下，与像素合并等一起进行高帧频的摄像。在进行像素合并中，由于各自包括像素簇的像素区域之间的距离增大(空间相邻像素变得更远)，因而优先控制第二缺陷校正的内容以减小空间缺陷校正权重。另外， 随着摄像帧频的增大，相邻像素的时间变化减小(时间相邻像素变得更近)。由于该原因， 优先控制第二缺陷校正的内容以增大时间缺陷校正权重。将参考图9来说明摄像时获取到的信息(进行摄像时所获取的信息)的权重计算单元的结构。摄像时获取到的信息包括诸如X射线剂量、身体部位信息、频率增强信息、图像中的运动量、摄像帧频、像素间距、表示是否执行像素合并的信息、以及X射线随机噪声量等的信息。权重计算单元901 907计算这些信息中的至少一个信息的加权信息。根据摄像时获取到的信息，适当增大空间缺陷校正权重，并且还可以适当增大时间缺陷校正权重。 例如，这是以高帧频拍摄快速运动被检体(后面说明)的情况。在这种情况下，权重计算单元901 907通过使用摄像时获取到的各个信息，单独计算摄像时获取到的各个信息的加权信息。权重计算单元901 907将加权信息计算结果输出给如图10所示的加权表那样的加权表。加法单元910通过相加和组合各个加权信息的值，获得与空间缺陷校正相对应的加权信息和与时间缺陷校正相对应的加权信息，并且将这些信息输出给缺陷校正方法判断单元920。缺陷校正方法判断单元920从第二缺陷校正方法的选项中选择校正方法，并且控制校正的内容。这些选项例如包括空间缺陷校正和时间缺陷校正。如果将针对空间缺陷校正和时间缺陷校正的加权信息设置成0，则该设备不进行这两种类型的校正。也就是说， 这些选项包括不执行第二缺陷校正。将参考图11来说明加权信息的相加值(输入)和执行第二缺陷校正时的加权信息的输出值之间的关系。缺陷校正方法判断单元920基于从加法单元910输入的各个加权信息的输入值，确定执行第二缺陷校正时的加权值(输出)。例如，如果输出是“0”或“ 1”，则缺陷校正方法判断单元920确定校正方法以执行空间缺陷校正或时间缺陷校正。如果输出满足0<输出< 1，例如，输出=0.5，则缺陷校正方法判断单元920控制第二缺陷校正的内容，从而以比率50%进行空间缺陷校正，并且还以比率50% 进行时间缺陷校正。注意，如果这两个权重的其中一个非常大，则在计算时间和实时性能方面考虑，优选通过仅使用一个方法来进行缺陷校正。第二缺陷校正单元930执行基于缺陷校正方法判断单元920所确定和判断出的权重输出的校正的内容。根据本实施例，可以通过使用摄像时获取到的信息(进行摄像时所获取的信息) 中的摄像帧频来控制第二缺陷校正的内容。第五实施例本实施例将举例说明用于通过检测摄像时获取到的信息(进行摄像时所获取的信息)中的、图像的像素位置的运动量来控制第二缺陷校正的内容的结构。图13举例示出被检体的运动量变化的图像。附图标记13a表示运动量大的被检体的第(n-1)帧图像 第(n+1)帧图像的例子。附图标记1 表示运动量小的被检体的第(n-1)帧图像 第(n+1) 帧图像的例子。运动量大的被检体例如是活体中的心脏。活体中的肺等周期性进行运动， 因此是具有运动量的被检体。另外，胃(Magen)摄像等所使用的胃的造影剂也是具有运动量的被检体。运动量小的被检体例如为诸如位置远离心脏和肺的四肢等的区域，并且在X 射线图像中包括许多骨等。该设备根据在以附图标记13a所表示的运动量大的被检体的区域内的像素或者以附图标记1 所表示的运动量小的被检体的区域内的像素中是否生成时间异常像素值，来改变第二缺陷校正方法或其权重。假定在以附图标记13a所表示的运动量大的被检体的区域内的像素中生成了时间异常像素值。在这种情况下，如果该设备利用作为相邻帧(第(n-1)帧和第(n+1)帧) 中的时间相邻像素的相同像素的平均值来进行缺陷校正，则第η帧的缺陷校正后的输出变成与空间相邻像素的像素值极大不同的像素值。该结果表示通过使用时间相邻像素无法适当地进行空间缺陷校正。因此，当在空间上围绕检测到的暂时缺陷像素的区域内检测到运动量，并且在时间缺陷像素附近检测到如附图标记13a所示的被检体那样的运动量大的被检体时，本实施例控制缺陷校正方法，以选择不执行时间缺陷校正或者减小相应的权重。将参考图14说明根据第五实施例的放射线摄像设备中的处理过程。在步骤 S1401，该设备执行第一缺陷校正。在通过放射线摄像所拍摄的图像经过如第一实施例所述的使用空间相邻像素的第一缺陷校正之后，处理进入步骤S1402。基于摄像时获取到的信息 (进行摄像时所获取的信息)，缺陷校正方法判断单元1020判断是否执行第二缺陷校正。当缺陷校正方法判断单元1020判断为不执行第二缺陷校正时，处理进入步骤S1408以执行显示用的图像处理。如果缺陷校正方法判断单元1020在步骤S1402判断为执行第二缺陷校正，则处理进入步骤S1403以控制第二缺陷校正用的设置。在该步骤中，该设备计算空间缺陷校正的加权信息和时间缺陷校正的加权信息。可选地，该设备选择不执行时间缺陷校正， 换句话说，将时间缺陷校正的加权信息设置成0，或者调整加权信息的设置以使权重减小或增大。在步骤S1404，该设备评价第二缺陷校正的结果。评价步骤(S1404)包括步骤 S1405和S1406。在步骤S1405，该设备对检测到像素值异常的像素中相邻像素的像素值(空间相邻像素的值)进行比较，并且输出偏差量计算结果。在这种情况下，CPU1014用作用于计算空间缺陷校正的偏差量的第一偏差量计算部件。在步骤S1406，该设备对与检测到像素值异常的像素相同的、并且从时间上位于包括检测到该异常的像素的帧前后的帧中所获得的像素的像素值(时间相邻像素的值)进行比较，并且输出偏差量计算结果。CPU 1014用作用于计算时间缺陷校正的偏差量的第二偏差量计算部件。在步骤S1407，该设备将作为校正对象的关注像素的运动量与各偏差量进行比较， 并且判断各偏差量是否落入预定误差范围内(误差判断)。如果偏差量落在误差范围外部， 则处理返回到步骤S1402以执行如上所述的相同处理。在步骤S1403，该设备对空间缺陷校正的加权信息和时间缺陷校正的加权信息中的至少一个加权信息进行重新设置，以使得偏差量落入该误差范围内。如果误差判断判断为空间缺陷校正的偏差量超出误差范围，则用作计算部件的权重计算单元901 907和加法单元910对空间缺陷校正的加权信息进
15行重新设置。如果误差判断判断为时间缺陷校正的偏差量超出误差范围，则权重计算单元 901 907和加法单元910对时间缺陷校正的加权信息进行重新设置。然后，第二缺陷校正单元1011基于重新设置后的权重信息，执行作为空间缺陷校正和时间缺陷校正的组合的校正方法。如果在步骤S1407判断为偏差量落入误差范围内，则处理进入步骤S1408以执行显示用的图像处理。该处理终止。根据本实施例，可以通过检测摄像时获取到的信息(进行摄像时所获取的信息) 中的、图像的像素位置的运动量，来控制第二缺陷校正的内容。第六实施例将参考图16说明根据第六实施例的放射线摄像设备的结构。在图16中，与图1 中相同的附图标记表示相同的部件，并且将省略重复说明。缺陷像素位置检测单元1608将X射线检测单元1004检测到的永久缺陷像素的位置信息与缺陷像素提取模式一起存储在缺陷像素位置存储单元1609中。空间缺陷校正单元1021通过使用空间相邻像素的像素值来校正存储在主存储器1015的各图像中的缺陷像素，并且将各缺陷位置存储在存储单元1012中。当用户经由操作面板1016输入摄像指示时，将摄像指示的内容存储在存储单元 1012中，并显示在操作面板1016上。在发出摄像指示时，身体部位选择单元1025经由操作面板1016选择特定身体部位。摄像信息获取单元IOM存储身体部位选择单元1025所选择的身体部位信息 16观。摄像信息获取单元IOM存储诸如空间频率处理中的增强频率和增强度等的图像处理信息1632，其中，根据身体部位选择单元1025所选择的身体部位信息，针对各身体部位来调整该图像处理信息1632。在CPU 1014的控制下，将预处理后的X射线图像数据作为原始图像数据经由CPU 总线10 传送给主存储器1015。空间缺陷校正单元1021通过使用空间相邻像素和出厂时存储在缺陷像素位置存储单元1609中的缺陷像素位置映射，进行缺陷校正。在CPU 1014 的控制下，将所获得的图像数据经由CPU总线10 传送给主存储器1015。主存储器1015 存储用于使计算机执行放射线摄像设备的控制方法的程序。然后，该设备通过使用缺陷像素位置检测单元1608从所获得的各图像数据中提取缺陷。缺陷像素位置存储单元1609将所获得的缺陷像素位置与缺陷像素提取模式一起存储。缺陷像素位置检测单元1608针对各图像提取诸如由X射线光子之间的相互作用所生成的X射线散粒噪声像素或例如在半导体X射线检测器中偶然混入噪声时所生成的异常点像素等的暂时缺陷像素。空间缺陷校正单元1021和时间缺陷校正单元1022根据由空间/时间缺陷校正用的加权控制单元1023所控制的权重，对检测到的缺陷像素进行缺陷校正。加权控制单元1023基于缺陷像素位置存储单元1609中的信息、摄像信息获取单元IOM中的信息、来自权重输入单元1611的信息以及加权表1610中的任一个来设置加权信息。加权控制单元1023可以控制设置，以基于例如在拍摄被检体时获取到的信息，来改变针对空间缺陷像素校正的加权信息和针对时间缺陷像素校正的加权信息各自的设置值。缺陷像素位置存储单元1609例如针对各像素，存储缺陷像素提取模式，其中，该缺陷像素提取模式表示用于提取永久缺陷像素的模式或者用于提取暂时出现或根据剂量而出现的暂时缺陷像素的模式。摄像信息获取单元IOM存储从X射线检测单元1004检测到的像素值中获得的X射线剂量信息1627、身体部位信息16 、像素合并量信息16 、图像获取帧频信息1630和被检体运动量信息1631等。加权控制单元1023进行控制，以通过使用存储在摄像信息获取单元IOM和缺陷像素位置存储单元1609中的缺陷像素提取模式来判断利用哪一权重进行空间/时间缺陷像素校正。在CPU 1014的控制下，将经过了缺陷像素校正处理的X射线图像数据作为原始图像数据经由CPU总线10 传送给主存储器1015 和图像处理单元1013。图像处理单元1013进行降噪处理、频率处理和色调处理，并且将由此得到的X射线图像数据输出给图像显示单元1017。将参考图17说明根据本实施例的放射线摄像设备中的处理过程。将省略对与图 3的流程图中的处理相同的处理的说明。在步骤S1702，该设备进行依赖于空间位置的缺陷像素校正(第一缺陷校正)。在出厂时，缺陷像素位置存储单元1609将存在于放射线摄像设备中的永久缺陷像素位置与缺陷像素提取模式一起存储。该设备通过使用表示永久缺陷像素位置的缺陷像素位置映射，进行依赖于空间位置的缺陷像素校正。在步骤S1705，该设备计算时间缺陷校正和空间缺陷校正的权重。第一缺陷检测所检测到的像素是永久缺陷像素，因此将时间缺陷校正权重设置成0以进行仅使用空间相邻像素的缺陷校正。该设备还通过使用摄像时获取到的信息来确定缺陷校正方法。当第二缺陷像素的数量非常小时，用于检测第二缺陷像素并进行第二缺陷校正的步骤在实时显示运动图像时需要很长的计算时间。这可能导致在显示之前存在延迟时间。此时，期望将时间缺陷校正权重和空间缺陷校正权重两者都设置成0以不进行缺陷校正。然而，如果代替实时显示，而是在此后重复观看特定图像或者使用特定图像进行诊断等，则任何偶然的缺陷像素可能影响所显示的图像或者表示色调的分析函数可能表现异常值。由于该原因，该设备通过控制时间缺陷校正权重/空间缺陷校正权重来进行缺陷像素校正。例如在进行静止图像拍摄或者运动图像帧频低时，适合通过增大使用空间相邻像素的缺陷校正的权重来进行缺陷校正。此时，由于在相邻帧之间存在一定的时间间隔，因而被检体等可能进行较大的运动。在这种情况下，使用相邻帧的缺陷校正导致了使用非常不同的像素值的缺陷校正。下面是适合通过增大使用时间相邻像素的缺陷校正的权重来进行缺陷校正的情况。在以高帧频进行摄像时，时间相邻像素的像素值在精度上有时高于空间相邻像素的像素值。例如，这是被检体几乎不运动的情况。在这种情况下，增大使用时间相邻像素的缺陷校正的权重。另外，在以高帧频进行摄像时，通常在放射线摄像设备侧进行设置从而以合并的方式读出像素。这是因为读出许多像素需要很长的时间，因此难以以高帧频读出图像。 另外的原始是随着图像大小的增大，诸如预处理等的图像处理变得更困难。进行像素合并将增大相对于空间相邻像素的距离，因此将进一步增大进行使用时间相邻像素的缺陷校正的必要性。在例如要设置高帧频并且该设备例如进行2X2像素合并或4X4像素合并而并非读出所有像素时，将间距为160 μ m的像素大小实际被当作间距320 μ m或640 μ m的像素大小。此时，进行使用空间相邻像素的缺陷校正将会导致必需进行使用远的位置处的像素的缺陷校正，并且将会降低缺陷校正的精度。也就是说，当以高帧频进行摄像时，空间相邻像素被配置在空间上较远的位置处，而时间相邻像素被配置为时间上彼此较接近。由于这种协同效应，该设备通过增大使用时间相邻像素的缺陷校正的权重来进行缺陷校正。在步骤S1706，该设备通过使用在前一步骤中计算并控制的权重设置，进行空间/ 时间缺陷校正。广义而言，当将权重的其中一个设置成0时，该设备仅进行空间缺陷校正或时间缺陷校正。通过增大空间缺陷校正的权重进行缺陷校正的优点在于由于他/她习惯于先前的空间缺陷校正，因而即使用户感觉到经过了缺陷校正的图像的图像质量低，使用空间相邻像素也将在一定程度上帮助他或她掌握该图像的内容。另外，不断改进空间缺陷校正方法使得图像看起来更自然。例如，由于需要一些功夫来校正连续缺陷和线缺陷，因而缺陷校正算法的成熟度是最大的优点。本实施例可以提供一种能够针对暂时缺陷像素在空间参数校正和时间参数校正之间进行选择的放射线摄像设备。本实施例还可以提供一种放射线摄像设备，其中该放射线摄像设备可以针对如X射线散粒噪声像素或异常点像素等的并非始终出现的异常像素， 根据摄像条件，改变成适当的校正方法。第七实施例本实施例将举例说明用于通过使用X射线剂量作为摄像时获取到的信息来控制空间/时间缺陷校正权重的结构。将参考图18说明根据本实施例的放射线摄像设备中的处理过程。将省略对与图7A中的处理相同的处理的说明。在步骤S1807，该设备基于步骤S706获得的比率，控制空间/时间缺陷校正权重。 如果在步骤S706获得的比率高于X射线剂量相对于随机噪声的比率(例如为1/7)的相邻像素值处出现暂时缺陷像素，则由于存在无法看到该像素的可能性，因而将空间缺陷校正权重和时间缺陷校正权重都设置成0。也就是说，该设备进行控制以不进行缺陷校正。例如，如果在该比率低于X射线剂量相对于随机噪声的比率(例如为1/7)的相邻像素值处出现暂时缺陷像素，则该设备控制空间/时间缺陷校正权重以增大时间缺陷校正权重。在步骤S1808，该设备根据前一步骤获得的权重，进行使用空间/时间相邻像素的缺陷校正。根据本实施例，可以通过使用X射线剂量作为摄像时获取到的信息来控制空间/ 时间缺陷校正权重。其它实施例还可以通过读出并执行记录在存储器装置上的程序以进行上述实施例的功能的系统或设备的计算机(或者CPU或MPU等装置)和通过下面的方法来实现本发明的各方面， 其中，系统或设备的计算机通过例如读出并执行记录在存储器装置上的程序以进行上述实施例的功能来进行上述方法的各步骤。由此，例如通过网络或者通过用作存储器装置的各种类型的记录介质(例如，计算机可读介质)将该程序提供给计算机。尽管已经参考典型实施例说明了本发明，但是应该理解，本发明不局限于所公开的典型实施例。所附权利要求书的范围符合最宽的解释，以包含所有这类修改、等同结构和功能。本申请要求2009年5月12日提交的日本专利申请2009-115918的优先权，其全部内容通过引用包含于此。


一种放射线摄像设备，包括X射线照射单元，用于照射X射线；X射线检测单元，用于检测所述X射线照射单元照射的被检体的X射线图像，所述放射线摄像设备还包括第一缺陷检测单元，用于将X射线图像中、像素值始终异常的像素检测为位置依赖缺陷，并且获取所述缺陷在所述X射线图像中的位置信息；第二缺陷检测单元，用于将所述X射线图像中、依赖于时间的经过而暂时变为异常的像素检测为缺陷；以及确定单元，用于基于表示摄像条件的信息，来确定用于对所述第二缺陷检测单元检测到异常的像素的像素值进行校正的校正方法。